推力试验探针DMS-I20

推力试验探针DMS-I20

20N推力试验探针DMS-I20  

1N推力试验探针DMS-I21

产品概述：

本套探针分别符合GB2099.1-2008标准中的图9及图 10、IEC884-1.2002图9及图10要求，20N推力探针主要用于检验保护门内的带电部件是否被触及，1N推力探针主要用于检验保护门内的带电部件及有加强保护插座的带电部件是否被触及。

技术参数

20N推力试验探针HT-I20：探针部分3+0.03  0×1+0.015  0 ×80±0.5，端部倒圆R0.2±0.05，20N推力;

1N推力试验探针HT-I21：探针部分Φ1+0.015  0 ×80±0.5，端部倒圆R0.05，1N推力  

使用方法

将探针端部接触试样，然后施力20N（1N），当探针凸出端A-A面与B-B面平齐即可。

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制生产符合 IEC、UL、GB 等非标准的试验设备。同时承接专业检测机构、产品生产厂家的实验室系统集成工程。

推力试验探针DMS-I20

    迈盛测控设备有限公司坐落于深圳南山高新技术产业园，是一家集科研、制造、咨询服务为一体仪器制造企业，专业研制生产符合IEC、UL、GB等非标准的试验设备。同时承接专业检测机构、产品生产厂家的实验室系统集成工程。